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　　嵌入式軟件測(cè)試的目的是保證軟件滿足需求規(guī)格說(shuō)明，與非嵌入式軟件的測(cè)試目的是一樣的。系統(tǒng)失效是系統(tǒng)沒有滿足—個(gè)或多個(gè)正式需求規(guī)范中所要求的需求項(xiàng)，嵌入式軟件有其特殊的失效判定準(zhǔn)則。那如何做好嵌入式軟件開發(fā)測(cè)試呢？
　　
　　嵌入式軟件對(duì)可靠性的要求比較高。安全性的缺陷往往會(huì)導(dǎo)致災(zāi)難性的后果，即使是非安全性系統(tǒng)，由于大批量生產(chǎn)也會(huì)導(dǎo)致嚴(yán)重的經(jīng)濟(jì)損失。這就要求對(duì)嵌入式系統(tǒng)，包括嵌入式軟件、嵌入式硬件進(jìn)行嚴(yán)測(cè)試、確認(rèn)和驗(yàn)證。

1、軟件測(cè)試階段
　　
　　軟件測(cè)試有7個(gè)基本階段，即單元或模塊測(cè)試、集成測(cè)試、外部功能測(cè)試、回歸測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試、驗(yàn)收測(cè)試、安裝測(cè)試。嵌入式軟件測(cè)試在4個(gè)階段上進(jìn)行，即模塊測(cè)試、集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試、硬件/軟件集成測(cè)試。前3個(gè)階段適用于任何軟件的測(cè)試，硬件/軟件集成測(cè)試階段是嵌入式軟件所特有的，目的是驗(yàn)證嵌入式軟件與其所控制的硬件設(shè)備能否正確地交互。
　　
　　2、嵌入式軟件測(cè)試環(huán)境
　　
　　嵌入式軟件測(cè)試的測(cè)試環(huán)境主要有兩種：
　　
　　1）目標(biāo)環(huán)境測(cè)試：基于目標(biāo)的測(cè)試測(cè)試全面有效，但是消耗較多的經(jīng)費(fèi)和時(shí)間。
　　
　　2）宿主環(huán)境測(cè)試：基于宿主的測(cè)試代價(jià)較小，但是有些對(duì)環(huán)境要求高的功能和性能宿主機(jī)無(wú)法模擬，測(cè)試無(wú)法實(shí)現(xiàn)。
　　
　　目前的趨勢(shì)是把更多的測(cè)試轉(zhuǎn)移到宿主環(huán)境中進(jìn)行，把宿主環(huán)境測(cè)試無(wú)法實(shí)現(xiàn)的復(fù)雜和獨(dú)特功能放在目標(biāo)環(huán)境測(cè)試。我們的工作重點(diǎn)是基于宿主環(huán)境的測(cè)試，基于目標(biāo)環(huán)境的測(cè)試作為補(bǔ)充。
　　
　　在兩個(gè)環(huán)境中可以出現(xiàn)不同的軟件缺陷，重要的是目標(biāo)環(huán)境和宿主環(huán)境的測(cè)試內(nèi)容有所選擇。在宿主環(huán)境中，可以進(jìn)行邏輯或界面的測(cè)試、以及與硬件無(wú)關(guān)的測(cè)試。在模擬或宿主環(huán)境中的測(cè)試消耗時(shí)間通常相對(duì)較少，用調(diào)試工具可以更快地完成調(diào)試和測(cè)試任務(wù)。而與定時(shí)問(wèn)題有關(guān)的白盒測(cè)試、中斷測(cè)試、硬件接口測(cè)試只能在目標(biāo)環(huán)境中進(jìn)行。在軟件測(cè)試周期中，基于目標(biāo)的測(cè)試是在較晚的“硬件/軟件集成測(cè)試”階段開始的，如果不更早地在模擬環(huán)境中進(jìn)行白盒測(cè)試，而是等到“硬件/軟件集成測(cè)試”階段進(jìn)行全部的白盒測(cè)試，將耗費(fèi)更多的財(cái)力和人力。
　　
　　3、白盒測(cè)試與黑盒測(cè)試
　　
　　白盒測(cè)試或基本代碼的測(cè)試主要任務(wù)為檢查程序的內(nèi)部設(shè)計(jì)，或者在開發(fā)環(huán)境中進(jìn)行硬件仿真，一般不必在目標(biāo)硬件上進(jìn)行。根據(jù)源代碼的組織結(jié)構(gòu)查找軟件缺陷，要求測(cè)試人員對(duì)軟件的結(jié)構(gòu)和功能有詳細(xì)深入的了解。白盒測(cè)試與代碼覆蓋率密切相關(guān)，可以在測(cè)試中計(jì)算出代碼的覆蓋率，保證測(cè)試的充分性。嵌入式軟件測(cè)試通常要求有較高的代碼覆蓋率，要選擇最重要的代碼進(jìn)行白盒測(cè)試。
　　
　　黑盒測(cè)試在某些情況下也稱為功能測(cè)試。這類測(cè)試方法根據(jù)軟件的用途和外部特征查找軟件缺陷，不需要了解程序的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。黑盒測(cè)試不依賴代碼，從實(shí)際使用的角度進(jìn)行測(cè)試。黑盒測(cè)試與需求緊密相關(guān)，需求規(guī)格說(shuō)明的質(zhì)量會(huì)直接影響測(cè)試的結(jié)果。在進(jìn)行嵌入式軟件黑盒測(cè)試時(shí)，要把系統(tǒng)的預(yù)期用途作為重要依據(jù)，根據(jù)需求中對(duì)負(fù)載、定時(shí)、性能的要求，判斷軟件是否滿足這些需求規(guī)范。
　　
　　4、嵌入式測(cè)試內(nèi)容
　　
　　嵌入式軟件測(cè)試的內(nèi)容主要為：軟件代碼測(cè)試、編程規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)符合性測(cè)試、代碼編碼規(guī)范符合性測(cè)試、開發(fā)維護(hù)文檔規(guī)范符合性測(cè)試、用戶文檔測(cè)試。
　　
　　其中軟件測(cè)試服務(wù)范圍包括：系統(tǒng)級(jí)測(cè)試、應(yīng)用測(cè)試、中間件測(cè)試、BSP及驅(qū)動(dòng)程序測(cè)試、嵌入式硬件設(shè)計(jì)測(cè)試。
　　
　　其中，按照嵌入式軟件有無(wú)操作系統(tǒng)將嵌入式系統(tǒng)分為兩大類：無(wú)操作系統(tǒng)的嵌入式軟件、有操作系統(tǒng)的嵌入式軟件。
　　
　　4.1 無(wú)操作系統(tǒng)的嵌入式軟件
　　
　　無(wú)操作系統(tǒng)的嵌入式軟件主要包括C語(yǔ)言代碼、匯編語(yǔ)言代碼、Apa代碼等。
　　
　　C語(yǔ)言模式軟件測(cè)試：硬件設(shè)備及其他宏定義（編譯階段處理）、API函數(shù)測(cè)試、模塊初始化（包括系統(tǒng)初始化）、中間功能件測(cè)試、功能模塊測(cè)試、中斷處理測(cè)試、任務(wù)調(diào)度測(cè)試、區(qū)域功能測(cè)試、總體功能測(cè)試。
　　
　　匯編語(yǔ)言模式軟件測(cè)試：硬件設(shè)備及其他宏定義（編譯階段處理）、模塊初始化（包括系統(tǒng)初始化）、中間功能件測(cè)試、功能模塊測(cè)試、中斷處理測(cè)試、區(qū)域功能測(cè)試、總體功能測(cè)試。
　　
　　4.2 基于操作系統(tǒng)的嵌入式軟件
　　
　　基于操作系統(tǒng)的嵌入式軟件主要包括應(yīng)用軟件測(cè)試、系統(tǒng)軟件測(cè)試、整體性能測(cè)試。
　　
　　應(yīng)用軟件測(cè)試：模塊初始化（包括系統(tǒng)初始化）、中間功能件測(cè)試、功能模塊測(cè)試、區(qū)域功能測(cè)試、總體功能測(cè)試。
　　
　　系統(tǒng)軟件測(cè)試：硬件設(shè)備及其他宏定義（編譯階段處理）、API函數(shù)測(cè)試、模塊初始化（包括系統(tǒng)初始化）、中間功能件測(cè)試、功能模塊測(cè)試、中斷處理測(cè)試、區(qū)域功能測(cè)試、總體功能測(cè)試、標(biāo)準(zhǔn)符合性測(cè)試。
　　
　　整體性能測(cè)試：基于操作系統(tǒng)之上的嵌入式系統(tǒng)整體軟件測(cè)試，主要采用應(yīng)用軟件測(cè)試，著重分析性能、內(nèi)存分配、代碼覆蓋率、軟件執(zhí)行流程，并采用仿真器、邏輯分析儀的硬件測(cè)試工具進(jìn)行整體性能的測(cè)試。
　　
　　5、嵌入式軟件的測(cè)試工具
　　
　　用于輔助嵌入式軟件測(cè)試的工具很多，下面對(duì)幾類比較有用的有關(guān)嵌入式軟件的測(cè)試工具加以介紹和分析。
　　
　　5.1 內(nèi)存分析工具
　　
　　在嵌入式系統(tǒng)中，內(nèi)存約束通常是有限的。內(nèi)存分析工具用來(lái)處理在動(dòng)態(tài)內(nèi)存分配中存在的缺陷。當(dāng)動(dòng)態(tài)內(nèi)存被錯(cuò)誤地分配后，通常難以再現(xiàn)，可能導(dǎo)致的失效難以追蹤，使用內(nèi)存分析工具可以避免這類缺陷進(jìn)入功能測(cè)試階段。目前有兩類內(nèi)存分析工具——軟件和硬件的?；谲浖膬?nèi)存分析工具可能會(huì)對(duì)代碼的性能造成很大影響，從而嚴(yán)重影響實(shí)時(shí)操作；基于硬件的內(nèi)存分析工具價(jià)格昂貴，而且只能在工具所限定的運(yùn)行環(huán)境中使用。
　　
　　5.2 性能分析工具
　　
　　在嵌入式系統(tǒng)中，程序的性能通常是非常重要的。經(jīng)常會(huì)有這樣的要求，在特定時(shí)間內(nèi)處理一個(gè)中斷，或生成具有特定定時(shí)要求的一幀。開發(fā)人面臨的問(wèn)題是決定應(yīng)該對(duì)哪一部分代碼進(jìn)行優(yōu)化來(lái)改進(jìn)性能，常常會(huì)花大量的時(shí)間去優(yōu)化那些對(duì)性能沒有任何影響的代碼。性能分析工具會(huì)提供有關(guān)的數(shù)據(jù)，說(shuō)明執(zhí)行時(shí)間是如何消耗的，是什么時(shí)候消耗的，以及每個(gè)例程所用的時(shí)間。根據(jù)這些數(shù)據(jù)，確定哪些例程消耗部分執(zhí)行時(shí)間，從而可以決定如何優(yōu)化軟件，獲得更好的時(shí)間性能。對(duì)于大多數(shù)應(yīng)用來(lái)說(shuō)，大部分執(zhí)行時(shí)間用在相對(duì)少量的代碼上，費(fèi)時(shí)的代碼估計(jì)占所有軟件總量的5%-20%。性能分析工具不僅能指出哪些例程花費(fèi)時(shí)間，而且與調(diào)試工具聯(lián)合使用可以引導(dǎo)開發(fā)人員查看需要優(yōu)化的特定函數(shù)，性能分析工具還可以引導(dǎo)開發(fā)人員發(fā)現(xiàn)在系統(tǒng)調(diào)用中存在的錯(cuò)誤以及程序結(jié)構(gòu)上的缺陷。
　　
　　5.3 GUI測(cè)試工具
　　
　　很多嵌入式應(yīng)用帶有某種形式的圖形用戶界面進(jìn)行交互，有些系統(tǒng)性能測(cè)試足根掘用戶輸入響應(yīng)時(shí)間進(jìn)行的。GUI測(cè)試工具可以作為腳本工具有開發(fā)環(huán)境中運(yùn)行測(cè)試用例，其功能包括對(duì)操作的記錄和回放、抓取屏幕顯示供以后分析和比較、設(shè)置和管理測(cè)試過(guò)程。很多嵌入式設(shè)備沒有GUI，但常常可以對(duì)嵌入式設(shè)備進(jìn)行插裝來(lái)運(yùn)行GUI測(cè)試腳本，雖然這種方式可能要求對(duì)被測(cè)代碼進(jìn)行更改，但是節(jié)省了功能測(cè)試和回歸測(cè)試的時(shí)間。
　　
　　5.4 覆蓋分析工具
　　
　　在進(jìn)行白盒測(cè)試時(shí)，可以使用代碼覆蓋分析工具追蹤哪些代碼被執(zhí)行過(guò)。分析過(guò)程可以通過(guò)插裝來(lái)完成，插裝可以是在測(cè)試環(huán)境中嵌入硬件，也可以是在可執(zhí)行代碼中加入軟件，也可以是二者相結(jié)合。測(cè)試人員對(duì)結(jié)果數(shù)據(jù)加以總結(jié)，確定哪些代碼被執(zhí)行過(guò)，哪些代碼被巡漏了。覆蓋分析工具一般會(huì)提供有關(guān)功能覆蓋、分支覆蓋、條件覆蓋的信息。對(duì)于嵌入式軟件來(lái)說(shuō)，代碼覆蓋分析工具可能侵入代碼的執(zhí)行，影響實(shí)時(shí)代碼的運(yùn)行過(guò)程?；谟布拇a覆蓋分析工具的侵入程度要小一些，但是價(jià)格一般比較昂貴，而且限制被測(cè)代碼的數(shù)量。
　　
　　6、國(guó)內(nèi)外的嵌入式測(cè)試服務(wù)
　　
　　嵌入式軟件測(cè)試要提供嵌入式軟件及硬件的端到端測(cè)試服務(wù)，橫跨工具/設(shè)備、實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)（RTOS）、開發(fā)平臺(tái)和編程語(yǔ)言。服務(wù)內(nèi)容包括嵌入式軟件和硬件的測(cè)試策略和代碼級(jí)測(cè)試，以及覆蓋分析，功能測(cè)試，壓力測(cè)試，代碼審查，調(diào)試和代碼維護(hù)。測(cè)試服務(wù)覆蓋從設(shè)備驅(qū)動(dòng)，中間件/協(xié)議和系統(tǒng)及應(yīng)用水平測(cè)試。主要解決如通信、汽車電子行業(yè)、消費(fèi)電子及多媒體、工業(yè)自動(dòng)化、網(wǎng)絡(luò)、存儲(chǔ)、計(jì)算機(jī)硬件和外設(shè)的嵌入式系統(tǒng)測(cè)試。
　　
　　6.1 國(guó)外嵌入式軟件測(cè)試服務(wù)
　　
　　國(guó)外的嵌入式軟件測(cè)試服務(wù)有：黑盒測(cè)試、功能測(cè)試、單元測(cè)試、回歸測(cè)試、配置測(cè)試、壓力測(cè)試、UI測(cè)試、安裝測(cè)試、模塊化測(cè)試、集成測(cè)試、手動(dòng)黑盒測(cè)試、負(fù)載測(cè)試、驗(yàn)收測(cè)試。
　　
　　提供給用戶的測(cè)試結(jié)果主要為：測(cè)試規(guī)劃、測(cè)試用例、驗(yàn)收測(cè)試用例、用戶手冊(cè)、缺陷報(bào)告、改進(jìn)建議等。
　　
　　6.2 國(guó)內(nèi)嵌入式軟件測(cè)試服務(wù)
　　
　　國(guó)內(nèi)的嵌入式軟件測(cè)試服務(wù)還處于起步階段，并且主要限于嵌入式應(yīng)用軟件、工業(yè)控制軟件，測(cè)試的主要內(nèi)容包括：
　　
　　1）功能測(cè)試
　　
　　依據(jù)ISO/IEC 9126-1 質(zhì)量模型，驗(yàn)證系統(tǒng)是否滿足明確和隱含要求功能。功能測(cè)試覆蓋實(shí)用性、準(zhǔn)確性、互操作性、互用性、保密安全性、功能依從性。
　　
　　2）可靠性測(cè)試
　　
　　依據(jù)ISO/IEC 9126-1 質(zhì)量模型，測(cè)試在指定條件使用時(shí)，軟件產(chǎn)品維持規(guī)定的性能級(jí)別的能力。可靠性測(cè)試覆蓋成熟性、容錯(cuò)性、易恢復(fù)性等質(zhì)量特性。
　　
　　3）性能測(cè)試
　　
　　依據(jù)ISO/IEC 9126-2 質(zhì)量模型，檢測(cè)在規(guī)定條件下，軟件產(chǎn)品執(zhí)行其功能時(shí)，提供適當(dāng)?shù)捻憫?yīng)和處理時(shí)間以及吞吐量的能力以及使用合適的數(shù)量和類型的資源的能力。
　　
　　4）安全性測(cè)試
　　
　　依據(jù)ISO/IEC 9126-3 質(zhì)量模型，測(cè)試在指定條件使用時(shí)，軟件產(chǎn)品維持規(guī)定的性能級(jí)別的能力?？煽啃詼y(cè)試覆蓋成熟性、容錯(cuò)性、易恢復(fù)性等質(zhì)量特性。
　　
　　5）易用性測(cè)試
　　
　　依據(jù)ISO/IEC 9126-4 質(zhì)量模型，測(cè)試在指定條件使用時(shí)，軟件產(chǎn)品被理解、學(xué)習(xí)、使用和吸引用戶的能力。測(cè)試覆蓋易理解性、易學(xué)性、易操作性、吸引性。
　　
　　6）可移植性測(cè)試
　　
　　依據(jù)ISO/IEC 9126-5 質(zhì)量模型，測(cè)試軟件產(chǎn)品從一種環(huán)境遷移到另外一種環(huán)境的能力，測(cè)試覆蓋適應(yīng)性7、嵌入式培訓(xùn)課程
　　
　　嵌入式軟件測(cè)試的培訓(xùn)在國(guó)內(nèi)還沒有相成規(guī)模，絕大部分是在軟件測(cè)試中穿插幾個(gè)課時(shí)進(jìn)行嵌入式軟件測(cè)試的簡(jiǎn)單培訓(xùn)，并且主要集中于以下幾個(gè)方面：
　　
　　1）嵌入式領(lǐng)域軟件工程與軟件質(zhì)量的保證：嵌入式軟件危機(jī)與軟件缺陷，軟件質(zhì)量的過(guò)程與控制，嵌入式軟件的特點(diǎn)，嵌入式軟件的開發(fā)過(guò)程。
　　
　　2）嵌入式軟件測(cè)試技術(shù)：掌握白盒測(cè)試、黑盒測(cè)試、灰盒測(cè)試，測(cè)試覆蓋率、回歸測(cè)試等重要概念，掌握單測(cè)試、集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試等測(cè)試過(guò)程，測(cè)試的誤區(qū)和經(jīng)驗(yàn)。
　　
　　3）嵌入式測(cè)試過(guò)程與測(cè)試管理：了解測(cè)試過(guò)程及測(cè)試管理的主要內(nèi)容，掌握測(cè)試需求確立、測(cè)試計(jì)劃和測(cè)試大綱制定、測(cè)試用例設(shè)計(jì)、測(cè)試用例執(zhí)行、測(cè)試結(jié)果收集和測(cè)試結(jié)果分析，以及測(cè)試錯(cuò)誤反饋和測(cè)試報(bào)告生成等工作。掌握測(cè)試過(guò)程輔助支持工具的使用。
　　
　　4）結(jié)合目前主流應(yīng)用，了解嵌入式測(cè)試工具支持及操作和使用，搭建嵌入式軟件的測(cè)試平臺(tái)，掌握嵌入式測(cè)試的思想和方法：軟件工程與質(zhì)量保證支撐系統(tǒng)（Panorama++）、測(cè)試自動(dòng)化工具（Vectorcast）、硬件輔助的實(shí)時(shí)在線白盒測(cè)試工具（Codetest）、黑盒測(cè)試工具（GESTE）、基于全數(shù)字仿真的嵌入式軟件綜合測(cè)試工具（CRESTS/ATAT，與CRESTS/TESS）、嵌入式軟件仿真工具Eurosim。
　　
　　5）通過(guò)經(jīng)典嵌入式測(cè)試安全分析，學(xué)會(huì)設(shè)計(jì)嵌入式軟件測(cè)試的解決方案。
　　
　　鑒于嵌入式測(cè)試的特殊要求，嵌入式測(cè)試課程應(yīng)側(cè)重以下幾個(gè)主要內(nèi)容：
　　
　　1）嵌入式系統(tǒng)概要：主要包括嵌入式發(fā)展、特點(diǎn)、行業(yè)涵蓋、新技術(shù)趨勢(shì)等；
　　
　　2）嵌入式硬件平臺(tái)：主要包括ARM、DSP、FPGA、CPLD、單片機(jī)、SSI、I2C、I2S、EPI、μDMA、UART、IrDA、USB、Ethernet、MCI、SD、CAN、PWM、QEI、GPIO、JTAG等；
　　
　　3）嵌入式編程語(yǔ)言和環(huán)境概要：主要包括C、C++、Ada、匯編、Java、KEIL、IAR Embedded Workbench、Sourcery G++、Code Red Technoloigy、CCstudio IDE等；
　　
　　4）嵌入式測(cè)試的內(nèi)容：主要包括設(shè)計(jì)方案測(cè)試、嵌入式軟件代碼測(cè)試、專項(xiàng)要求測(cè)試、嵌入式軟件標(biāo)準(zhǔn)、嵌入式軟件測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)、嵌入式文檔規(guī)范評(píng)測(cè)等；
　　
　　5）嵌入式測(cè)試工具使用：主要包括CodeTest、VectorCAST、CRESTS/ATAT、LOGISCOPE、Logic Analyzer、Oscilloscope等；
　　
　　6）嵌入式測(cè)試過(guò)程管理與報(bào)告生成：主要包括測(cè)試規(guī)劃、人員管理、測(cè)試用例、驗(yàn)收測(cè)試用例、用戶手冊(cè)、缺陷報(bào)告、改進(jìn)建議等。
　　
　　其中，嵌入式測(cè)試的內(nèi)容、工具使用、過(guò)程管理與報(bào)告生成是嵌入式軟件測(cè)試培訓(xùn)課程的重點(diǎn)。
　　
　　8、結(jié)論
　　
　　嵌入式系統(tǒng)復(fù)雜多樣的特點(diǎn)，決定了嵌入式測(cè)試是一項(xiàng)任務(wù)艱巨過(guò)程復(fù)雜的過(guò)程，對(duì)軟件測(cè)試人員的要求也比較高。嵌入式軟件測(cè)試的完善也遵從由易入難和同步推進(jìn)相互結(jié)合、引進(jìn)吸收與自力更生相互結(jié)合的原則。要側(cè)重于嵌入式領(lǐng)域主流的嵌入式軟硬件平臺(tái)，著眼于社會(huì)中嵌入式應(yīng)用廣泛的移動(dòng)通信、汽車電子、消費(fèi)電子領(lǐng)域，著力于加快主要嵌入式軟件測(cè)試工具的建設(shè)使用，立足于軟件測(cè)試環(huán)境的建立和相關(guān)嵌入式測(cè)試項(xiàng)目的調(diào)研與推進(jìn)，從無(wú)到有、從小到大、從少到多、從弱到強(qiáng)逐步建立起科學(xué)完善的嵌入式評(píng)測(cè)體系。